IC芯片元器件的共面性測(cè)試儀問(wèn)題

引腳的共面性指器件引腳底面不在同一平面的情況。一般用引腳底面離元件引線確定的平面的距離表示。引腳共面性的問(wèn)題，主要涉及多引腳的器件，如QFP、BGA、連接器等。

一、儀器工作原理：

測(cè)量?jī)x工作原理：被測(cè)工件（置于工作臺(tái)上）由LED表面光或輪廓光（在底座內(nèi)）照明后，經(jīng)變焦距物鏡與彩色CCD攝影機(jī)罩殼內(nèi)攝取被測(cè)零件影像，再通過(guò)S端子傳送至計(jì)算機(jī)及顯示器上，軟件在顯示器上產(chǎn)生的視頻十字線為基準(zhǔn)，對(duì)其進(jìn)行瞄準(zhǔn)測(cè)量，通過(guò)工作臺(tái)帶動(dòng)光學(xué)尺與在X、Y方向上移動(dòng)，取空間各點(diǎn)坐標(biāo)值，由轉(zhuǎn)接卡至計(jì)算機(jī)，對(duì)測(cè)量坐標(biāo)值進(jìn)行幾何運(yùn)算，完成各種數(shù)據(jù)量測(cè)工作。

二、應(yīng)用領(lǐng)域：

 本儀器采用測(cè)量軟件，能率的檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓和表面形狀，1、元器件共面性測(cè)試、引腳移位檢測(cè)、引腳高度錯(cuò)誤檢測(cè)、引腳面積測(cè)量、直徑、角度、不規(guī)則面積測(cè)量、手輪可調(diào)節(jié)光柵、非刺眼型光源、高精度XZ軸測(cè)距、SPC過(guò)程統(tǒng)計(jì)如樣板、沖壓件、凸輪，成形銑刀等各種工具，刀具和零件，以及端子、鐘表、金剛石等生產(chǎn)。

三、儀器功能：

    產(chǎn)品基本幾何元素測(cè)量、組合元素測(cè)量、幾何元素構(gòu)造、形位公差評(píng)定、逆向工程等，各種報(bào)表的輸出,各種產(chǎn)品的檢測(cè)。

四、儀器特點(diǎn)：

    1、機(jī)臺(tái)核心零部件全部采用產(chǎn)品，整機(jī)經(jīng)過(guò)嚴(yán)格，規(guī)范的組裝和調(diào)試，整機(jī)在24小時(shí)恒溫間內(nèi)經(jīng)300小時(shí)不間斷運(yùn)行負(fù)載測(cè)試。

2、自準(zhǔn)直儀校準(zhǔn)機(jī)臺(tái)機(jī)身工作臺(tái)裝配工藝，保證機(jī)器空間測(cè)量高精度。

3、工作臺(tái)，經(jīng)過(guò)嚴(yán)格熱處理時(shí)效，長(zhǎng)期使用保證基準(zhǔn)面不變形，導(dǎo)軌運(yùn)行精度穩(wěn)定。

4、采用山東濟(jì)南青“00”級(jí)花崗石底座，保證機(jī)械系統(tǒng)*的穩(wěn)定性。

5、采用高精密V型交叉導(dǎo)軌，保證儀器*的機(jī)械精度。

五、測(cè)量軟件簡(jiǎn)介：

 1、全中文界面（語(yǔ)音可選擇）、鼠標(biāo)直接點(diǎn)擊操作，智能型簡(jiǎn)便易學(xué)易用。

2、對(duì)一般幾何測(cè)量圓、點(diǎn)、線、面、橢圓、圓弧、槽形、O形環(huán)、距離、角度、開(kāi)云線、閉云線等，可以自動(dòng)抓取量測(cè)數(shù)據(jù)，度穩(wěn)定。

3、測(cè)量方法多樣（自動(dòng)判別測(cè)量、采點(diǎn)測(cè)量、對(duì)比測(cè)量、公差對(duì)比測(cè)量、預(yù)置元素等），可以滿(mǎn)足用戶(hù)不同需求，大大提高使用的方便性和測(cè)量精度。

4、測(cè)量工件可任意擺放，軟件具有強(qiáng)大的坐標(biāo)平移、旋轉(zhuǎn)或重新設(shè)置功能。

5、可以在影像上對(duì)所測(cè)元素直接進(jìn)行尺寸標(biāo)定，給客戶(hù)以清晰、直觀的感覺(jué)。

6、無(wú)論規(guī)則與不規(guī)則形狀工件只需鼠標(biāo)框選，圖形自動(dòng)尋邊找點(diǎn)，進(jìn)行二維圖形抄數(shù)。

7、實(shí)現(xiàn)DXF格式的輸入和輸出，還可保存BMP圖片以及用戶(hù)程序格式。

8、直觀、豐富的報(bào)表輸出，Word 、Excel、TXT格式及統(tǒng)計(jì)功能。

9、實(shí)用的SPC模塊。

1. 十字線中心采點(diǎn)、鼠標(biāo)采點(diǎn)、自動(dòng)對(duì)焦采點(diǎn)、鼠標(biāo)自動(dòng)采點(diǎn)、直線采點(diǎn)、方形框采點(diǎn)、放大采點(diǎn)、采集點(diǎn)。
2. 采點(diǎn)測(cè)量直線、框選測(cè)量直線、分段框選測(cè)量直線、采點(diǎn)測(cè)量圓、框選測(cè)量圓、分段框選測(cè)量圓、單擊圓內(nèi)部測(cè)量圓、框選測(cè)量多圓。
3. 采點(diǎn)測(cè)量弧、框選測(cè)量弧、分段測(cè)量超過(guò)屏幕的弧、采點(diǎn)測(cè)量橢圓、框選測(cè)量橢圓、分段測(cè)量橢圓、采點(diǎn)測(cè)量矩形、框選測(cè)量矩形。
4. 采點(diǎn)測(cè)量槽形、框選測(cè)量槽形、采點(diǎn)測(cè)量O環(huán)形、框選測(cè)量O環(huán)形、采點(diǎn)測(cè)量云線、采點(diǎn)測(cè)量閉合云線、影像測(cè)量高度、圓心框采點(diǎn)。
5. 自動(dòng)捕捉測(cè)量、測(cè)量超過(guò)屏幕的線，弧，圓，橢圓、刪除后一次采集的點(diǎn)。